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Teledyne SP Devices

网络研讨会-应用于SS-OCT的高性能数据采集

应用于扫频光学相干断层成像(SS-OCT)的高速数字化仪最新进展

High-performance data acquisition for Swept-source OCT

可按需提供

时长: 30分钟

在本次网络研讨会中，我们深入研究了应用于扫频光学相干断层成像(SS-OCT)的数字化仪的进展。了解这些数据采集板卡如何以更高的分辨率和更快的扫描速率实现更深、更宽的成像。

本次网络研讨会涵盖的主题:

k-clock重映射（对k-clock采样）对比直接时钟（k-clock直接驱动数字化仪）的优势
使用Mach-Zehnder干涉仪(MZI)来降低时钟频率
K-clock 重映射固件（FWOCT）
系统方面：触发，galvo控制，GPU编程处理，以及其他
现有产品以及正在进行的产品开发

谁应该参加? 本次网络研讨会是为有兴趣在SS-OCT应用中提高他们对数据采集的理解的行业专业人士和研究人员量身定制的。

主讲人: Ulrik Lindblad, 具有丰富的数字化仪开发和营销经验

请在下方注册以参加网络研讨会

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