日時： 2026年1月22日（木）実施
内容：
現在、組み込み機器などにおいてもシリアルインタフェースの高速化によりプリント基板やケーブルの品質によって起きる通信障害への対応がより高度に求められています。本セミナーにおいては、伝送路特性の評価の指標や不良原因の究明法等について、そうした目的で用いられるTDR測定器の基本から解説し、従来からある様々な課題とテレダイン・レクロイ製品による解決策まで幅広く知っていただくためのセミナーとなります。
今回は「実践編」と題し、TDR（Time Domain Reflectometry; 時間領域反射測定）計測の基礎と重要ポイントを解説します。テレダイン・レクロイのTDR計測器を用いて、実測デモを交えながら評価・デバッグに役立つ機能の活用法をご紹介します。さらに、高機能モデルも併せてご紹介します。
【こんな方におすすめ】
◎ 高速化する伝送路の評価/不良解析の要求に迫られて基本～実践まで学びたいとお考えの方
◎ すでに伝送路評価に従事しながらも、高速化への対応に苦慮されていらっしゃる方
◎ テレダイン・レクロイのTDRをこれから導入予定または導入済の方
◎ テレダイン・レクロイのTDRを導入検討中で、使い方、操作方法などを知りたい方
（日本語、60分）
その他のセミナー：
『プリント基板/ケーブル等、 高速伝送路評価/不良解析セミナー ～入門編～』
入門編として、TDR/ネットワークアナライザの動作の解説、基本操作としてインピーダンスプロファイル計測、Sパラメータ計測、フィクスチャ効果の除去（デエンベッド）、シミュレーションによるアイダイアグラム解析など、基本的な解説を主にご紹介します。
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