日時： 2025年1月23日（木）実施
内容：
本セミナーは、テレダイン・レクロイ製オシロスコープやプローブの 使い方の基本から、テレダイン・レクロイ製品ならではの高度で便利な機能まで幅広く知っていただくためのセミナーです。今回は、パワーエレクトロニクス関係の、特に昨今ますます採用が進んでいるワイドバンドギャップ半導体のテストに関してご紹介します。
高効率なワイドバンドギャップ半導体を使用する際には、単に高速立ち上がり波形の捕捉というだけでなく、スイングの大きな立ち上がりの速い波形に起因する大きな同相ノイズに対処する難しさがあり、適切なプローブ選択や実験のセットアップに注意が必要です。これらWBG半導体のダブルパルステストにおいてのプローブの選択や注意点、解析オプションについて解説します。
1. 高速立ち上がり波形の測定についての考察
～帯域と立ち上がり時間、プローブ帯域の測定結果への影響～
2. 様々なパワーエレクトロニクス測定用プローブ
3. 高い同相ノイズ環境下での測定に適したプローブ
4. ダブルパルステストのセットアップと解析オプション
（日本語、60分）
その他の使いこなしセミナー：
今回のセミナー内容の他にも、入門編、プローブ編、演算と計測パラメータ編、自動機能を使った解析編などのセミナーも公開しております。ぜひご覧ください。
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